закрыть

Категории ОКС

Поиск ГОСТов по категориям Общероссийского Классификатора Стандартов
Категории ОКС в развёрнутом виде

Классификатор ОКПД 2

поиск кода ОКПД 2 онлайн, все категории классификатора

Условные обозначения

Иконки файлов и свойства документа
- иконка ГОСТа;

Типы файлов

- документ представлен набором отсканированных изображений;
- документ можно скачать одним PDF файлом, файл состоит из не распознанных отcканированных страниц;
- документ можно скачать одним PDF файлом с распознанным текстом;
- документ можно скачать одним PDF файлом, внутри файла работают ссылки на другие ГОСТ'ы, текст распознан

Статусы ГОСТов

- документ действует в настоящий момент (статус ГОСТа - Действующий);
- документ отменён (статус ГОСТа - Отменён);
- документ заменён (статус ГОСТа - Заменён);
- ГОСТ не действует на территории РФ;

ГОСТ Р 8.716-2010

ГОСТ Р 8.716-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Рефлектометры экстремального ультрафиолетового излучения для измерений характеристик многослойных наноструктур в диапазоне длин волн от 10 до 30 нм. Методика измерений

Категории ГОСТ Р 8.716-2010 по ОКС:
Статус документа:
действует, введён в действие 01.01.2012
Название на английском языке:
State system for ensuring the uniformity of measurements. Reflectometers of the extreme ultraviolet radiation for measurements of the characteristics of multilayer nanostructures in the wavelength range from 10 to 30 nm. Measurements procedure
Дата актуализации информации по стандарту:
18.09.2019, в 13:28 (более года назад)
Вид стандарта:
Основополагающие стандарты
Дата начала действия ГОСТа:
2012-01-01
Дата последнего издания документа:
2019-07-11
Коды документа ГОСТ Р 8.716-2010:
Код КГС:
Т84
Код ОКСТУ:
0008
Число страниц:
12
Назначение ГОСТ Р 8.716-2010:
Настоящий стандарт распространяется на средства измерений характеристик многослойных наноструктур в диапазоне длин волн от 10 до 30 нм - рефлектометры экстремального вакуумного ультрафиолетового излучения, предназначенные для измерения коэффициентов зеркального и диффузного отражения, и устанавливает методику измерений коэффициентов зеркального и диффузного отражения. ЭУФ рефлектометры обеспечивают в диапазоне длин волн от 10 до 30 нм измерение коэффициентов зеркального и диффузного отражения в диапазоне значений от 0,01 до 0,99. В качестве источников непрерывного ЭУФ излучения используют электронные накопительные кольца. В качестве источников импульсного ЭУФ излучения используют открытые излучатели на основе капиллярного разряда с испаряющейся стенкой или плазменного фокуса, а также электронные синхротроны. В качестве приемников ЭУФ излучения используют солнечно-слепые фотодиоды на основе многослойных наноструктур
Документ разработан орг-ей:
Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии
Ключевые слова документа:
сила излучения, спектральная чувствительность, спектральные коэффициенты зеркального и диффузного отражения, средства измерений, ультрафиолетовое излучение
Нормативные ссылки из текста ГОСТ Р 8.716-2010:
Ссылки на ГОСТы:
ГОСТ Р 8.736-2011 ГОСТ 8.197 ГОСТ 8.552 ГОСТ 8.207

Скачать ГОСТ Р 8.716-2010 вы можете в следующих версиях:

В данный момент версии документа не доступны для скачивания. Приносим извинения за предоставленные неудобства.

Вы можете просмотреть версии ГОСТ Р 8.716-2010, доступные для скачивания, возможно документ есть там в PDF формате.