ГОСТ Р 8.696-2010
Скачать ГОСТ Р 8.696-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивностей в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометра
Категории ГОСТ Р 8.696-2010 по ОКС:- 17. Метрология и измерения. Физические явления.
- 17.40. Линейные и угловые измерения *включая геометрические характеристики (gps)
- 17.40.01 Линейные и угловые измерения в целом
- Статус документа:
- действует
- Назначение ГОСТ Р 8.696-2010:
- Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения измерений межплоскостных расстояний в кристаллах, кристаллических тонких пленках и покрытиях, нанокристаллах и распределений интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах, полученных при дифракции пучка электронов на кристаллах с помощью электронного дифрактометра. Настоящий стандарт применяют для определения межплоскостных расстояний в кристаллах в диапазоне линейных размеров от 0,08 до 20,00 нм и распределения токовых интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах, полученных от кристаллов в диапазоне от 10 в ст. минус14 до 10 в ст. минус 6 А. Настоящий стандарт не устанавливает методику определения типа элементарной решетки кристалла и индекса Миллера плоскостей кристалла, между которыми вычисляют расстояния
- Поправки и изменения к ГОСТ Р 8.696-2010
- стандарт не имеет поправок
Доступные для скачивания версии ГОСТ :
В данный момент версии документа не доступны для скачивания. Приносим извинения за предоставленные неудобства.